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作者： 昂洋-柯正發(fā)表時間：2018-07-28 11:36:27瀏覽量：13503【小中大】
貼片電容為什么要進行老化處理?貼片電容器的容量隨時間以對數(shù)規(guī)律降低(之稱之為老化)。然而，如果貼片電容器發(fā)熱溫度高于其介質(zhì)的居里點時，此時產(chǎn)生“去老化”現(xiàn)象，即通過老化發(fā)生的容量降低重新恢復，當電容器恢復冷卻時，老化又隨時間產(chǎn)生。
貼片電容器去老化條件：將貼片電容器放在上限類別溫度或按詳細規(guī)范中可能規(guī)定的更高溫度(150℃)下經(jīng)1h 后，接著在試驗的標準大氣條件下恢復24±1h。
根據(jù)各類材質(zhì)隨時間衰減系數(shù)見以下曲線圖：
貼片電容測試條件：
項目
Item
技術(shù)規(guī)格
Technical Specification
測試方法
Test Method Remarks
容量
Capacitance
Ⅰ類 ClassⅠ
(COG/NPO)
應符合指定的誤差級別
Should be within the specified toleance
標稱容量
Capacitance
測試頻率
Measuring Frequency
測試電壓
Measuring Voltage
≤1000PF
1MHz±10%
1.0V±0.2V
>1000PF
1KHz±10%
1.0V±0.2V
Ⅱ類 Class Ⅱ
應符合指定的誤差級別
Should be within the specified toleance
C≤10uF 測試頻率：1KHz±10% 1.0V±0.2V
Test Frequency: 1KHz±10% Test Voltage: 1.0V±0.2V
C>10uF
X7R X5R Y5V 測試頻率：120Hz±24Hz 0.5V±0.05V
Test Frequency: 120Hz±24Hz Test Voltage: 0.5V±0.05V
測試溫濕度：25±5℃ 50%-70%
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